이미지 분석 소프트웨어 (Digital surf)

MountainsSEM®

 

SEM이미지를 빠르고 쉽게 채색하기 위한 ‘클릭 및 색상’도구, 이미지 수정 및 향상 도구 적용

SEM 이미지를 쉽게 색상화:

  • 몇 번의 클릭만으로 흑백에서 컬러로 전환
  • 객체는 소프트웨어에 의해 자동으로 감지되고 색상이 지정됩니다.
  • 레이어를 만들거나 투명도를 다룰 필요가 없습니다.

자세히 알아보기: www.digitalsurf.com/news/add-color-to-sem-images-in-only-a-few-steps/

SEM 이미지 수정 및 향상:

  • 매끄러운
  • 인공물을 제거하다
  • 조명 수정
  • 밝기 및 대비 조정

단 몇 초 만에 샘플의 두 번의 연속 기울어진 스캔에서 3D표면 지형을 재구성하고 정확한 높이 값을 얻습니다. 정확한 높이 값을 얻고 표면 거칠기를 평가합니다.

  • 표준 2D 이미지에서 "지형" 모델로 전환
  • 단 몇 초 만에 샘플의 2회 연속 기울어진 스캔에서 3D 모델 재구성
  • 양질의 스테레오 쌍에서 정확한 높이 값을 얻습니다.
  • 표면 질감, 표면 거칠기 등을 평가합니다.

자세히 알아보기: www.digitalsurf.com/blog/7-tips-for-producing-sem-stereo-pairs/

4사분면 검출기를 사용하여 얻은 4개의 이미지에서 3D표면 지형을 재구성합니다.

  • 몇 초 만에 SEM 이미지를 3D로 업그레이드
  • 4사분면 검출기를 사용하여 얻은 4개의 이미지에서 3D 모델을 생성하고 보이지 않는 세부 정보를 시각화합니다.
  • 결합된 SEM 이미지를 사용자 정의 투명도 수준에서 3D 지형에 오버레이하여 향상된 렌더링 달성

자세히 알아보기: www.digitalsurf.com/blog/using-a-four-quadrant-detector-in-3d-reconstruction/

단일SEM 이미지에서 초안 3D 렌더링 생성, 이미지의 시각적 해석 향상

  • 단일 SEM 이미지에서 초안 3D 렌더링 생성
  • 이미지의 시각적 해석을 개선합니다(스테레오 쌍의 3D 재구성과 달리 이 경우 높이 값은 도량형이 아닙니다).

SEM 이미지에서 재구성된 지형과 EDS(EDX) 맵 또는 기타 스펙트럼/구성 데이터를 연결하는 멋진 3D 렌더링 구축

  • EDS(EDX) 맵 또는 기타 스펙트럼/구성 데이터를 SEM 이미지(또는 사용 가능한 경우 지형)와 연결하는 멋진 3D 렌더링 구축
  • 표면 특성 및 구성 강조
  • 다양한 렌더링 옵션(팔레트, 색상 혼합, 투명도 등)에 액세스

집속 이은 빔 주사 전자 현미경 이미지 시리즈 로드, 표시 및 분석. 단층 촬영 및 화학 분석 관련.

  • 집속 이온 빔 주사 전자 현미경 이미지 시리즈를 3D 복셀 큐브로 로드, 표시 및 분석
  • 단층 촬영 및 화학 분석 관련
  • 재료 내부를 쪼개기: 분할 및 애니메이션 설정 선택
  • 3D 복셀 큐브에서 3D 입자 및 입자 통계 생성

강력한 입자 분석 도구를 SEM 데이터에 적용하고 SEM 특정 개체 인식을 사용하며 이미지의 기능을 자동으로 식별하고 정량화합니다.

  • 거의 모든 SEM 이미지에서 특징을 신속하게 식별하고 정량화합니다.
  • 전용 SEM-SE 및 SEM-BSE 이미지 분할 및 물체 감지의 이점
  • 70개 이상의 다양한 특성(면적, 둘레, 직경 등)을 계산하고 사용자 정의 클래스로 분류
  • 통계를 생성하고 관리도, 산점도, 히스토그램 등을 만듭니다.

크기에 맞게 이미지 설정. 길이, 면적, 둘레, 각도 등 이미지 자체의 모든 특징을 정확하게 측정합니다.

  • 크기에 맞게 이미지 설정
  • 길이, 면적, 둘레, 각도 등 이미지 자체의 모든 특징을 정확하게 측정합니다.
  • 프로파일과 수평 윤곽(단면)을 추출하고 측정합니다.

자세히 알아보기: www.digitalsurf.com/news/measure-any-object-in-a-microscope-image/

다른 검출기의 SEM 이미지 또는 ARM 또는 EDS(EDX)와 같은 다른 측정 장비의 데이터를 결합합니다. 스펙트럼 분석 데이터로 SEM 이미지를 공동 위치화

  • 서로 다른 검출기(SE + BSE)의 SEM 이미지 또는 다른 측정 장비(AFM/SPM, 3D 광학 현미경)의 데이터를 결합하여 상관관계 분석
  • 스펙트럼 분석 데이터(EDX, Cathodoluminescence…)로 SEM 이미지를 공동 위치화하고 인상적인 화학 지도를 구축합니다.

왼쪽: AFM 지형과 함께 SEM 이미지의 동시 위치화.

 

 

 

 

 

 

 

 

<권장모듈

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