여러기기(프로파일로미터, 현미경)의 데이터 통합, 분석 속도 향상, 다른 Mountains 사용자가 만든 문서 로드, 거의 모든 유형의 표면 및 이미지 분석 장비의 데이터 처리.

여러 계측기의 데이터 통합

• 단일 소프트웨어 프로그램을 사용하여 분석 속도 향상
• 데이터에서 의미 있는 결과를 생성하고 있는지 확인

다른 Mountains® 사용자가 만든 실시간 문서 및 분석 로드(전 세계 20,000개 이상의 커뮤니티)

거의 모든 유형의 표면 및 이미지 분석 기기의 데이터를 처리합니다(50개 이상의 기기 제조업체에서 Mountains® 사용).

 

프로필로미터, 주사 전사현미경(SEM), 주사 탐침 현미경(SPM) 및 분광 기술의 데이터 처리.

수백가지 파일 형식 로드.

 

데이터 처리:

• 2D 및 3D 프로파일로미터
• 주사 전자 현미경(SEM)
• 원자력 현미경(AFM)을 포함한 스캐닝 프로브 현미경(SPM)
• 분광 기술(Raman, TERS, IR, nanoIR, 형광, 광발광, 음극발광, EDX/EDS, XRF 등)

다음을 포함하는 수백 가지 파일 형식을 로드합니다.

• 프로필
• 표면
• 3D(단층 촬영) 및 2D 이미지
• 다중 채널 파일
• 힘 곡선
• 초분광 이미지
• 다중 채널 큐브 등

상관 분석수행. Colocalization 기능을 사용하여 다른 기기의 데이터를 결합하고 오버레이

• 상관 분석을 빠르고 쉽게 수행
• MountainsLab® colocalization 기능을 사용하여 다양한 기기의 이미지 및 기타 데이터를 결합하고 오버레이합니다.
• 이미지 기능을 강조하기 위해 이미지 보정, 색상 혼합 및 투명도를 포함한 고급 렌더링 옵션에 액세스

표면 측정에 대한 Digital Surf의 전문성을 활용하십시오. 표면 질감 분석. 고급 필터 및 매개변수에 액세스

• 표면 계측 분야에서 Digital Surf의 30년 이상의 전문성을 활용하십시오.
• 표면 질감 분석을 위한 애플리케이션별 도구 사용
• 프로파일, 표면 및 일련의 데이터에 대한 고급 필터, 매개변수 및 기타 도구에 액세스

모든 표면의 입자 감지 및 정량화. 애플리케이션 지향 세분화 기술의 이점. 특성에 따라 입자를 클래스로 그룹화. 통계 및 그래픽 생성.

• 모든 표면과 기기에서 모든 형태와 크기의 입자, 기공, 알갱이 및 기타 특징을 감지하고 정량화합니다.
• 기기 유형(프로파일러, SEM-SE, SEM-BSE, 다중 채널 데이터 등) 전용 애플리케이션 지향 분할 기술의 이점
• 특성에 따라 입자를 클래스로 그룹화
• 통계 및 그래픽 생성(산포도, 박스 플롯, 관리 차트, 히스토그램 등)

정적 또는 동적 데이터 채우기에 대한 통계 생성

통계 보고서 만들기

MountainLab이 자동으로 데이터를 감지하고 업데이트하게 하십시오.

데이터를 그래픽으로 표시.

• 정적 또는 동적 데이터 채우기에 대한 통계 생성
• 통계 보고서를 작성하고 MountainsLab®이 자동으로 데이터를 감지하고 업데이트하도록 합니다.
• 컨트롤 차트, 히스토그램, 산점도 등을 사용하여 데이터를 그래픽으로 표시

프로필 치수 자동생성. 프로파일을 CAD 데이터 또는 공칭 형식과 비교. 형태 편차를 그래픽으로 표시.

• 프로필 치수 자동 생성
• DXF 형식 또는 사용자 정의 공칭 형식의 CAD 데이터와 프로파일 비교
• 공차 도구를 사용하여 합격/불합격 기준 적용
• 형태 편차를 그래픽으로 표시
• 품질 관리 시스템을 위해 Excel 호환 형식으로 결과 내보내기
• 가변 치수가 있는 프로세스 프로필
• 고딕 아치 분석 수행

힘 곡선 및 힘 부피 분석. 접착력 감지, 단백질 전개를 위한 Wormlike chain(WLC) 모델 적용, Young’s Modulus 맵 생성 등

• 원자력 현미경으로 얻은 힘 곡선과 힘 부피 분석
• 힘 곡선을 자동으로 전처리 및 노이즈 제거하고, 기준선을 정규화하고, 캔틸레버 감도를 보정합니다.
• 힘 곡선 시각화: 단일 끌어당김 및/또는 후퇴 곡선 및 일련의 곡선 표시, 축 단위 선택
• 수동 미세 조정으로 접착력 접착 이벤트 감지 및 매개변수 계산
• 단백질 전개를 위한 Wormlike chain(WLC) 모델 적용
• 영률 맵 생성
• 일련의 힘 곡선에 대한 통계 생성

스펙트럼 맵 및 초분광 이미지 시각화 및 분석. 분광학의 데이터를 다른 기기의 데이터 및 이미지와 연관시킵니다. 구성 데이터의 다중 채널 큐브 로드. 입자 분석 수행.

• Raman, cathodoluminescence & photoluminescence 기술의 스펙트럼 맵 시각화 및 분석
• 초분광 이미지 시각화 및 분석
• 가능한 경우 지형 데이터를 포함하여 다른 기기(AFM, SEM 등)의 데이터 및 이미지와 분광학의 데이터를 연관시킵니다.
• 구성 데이터의 다중 채널 큐브 로드("화학" 큐브)
• 입자 분석 수행

몇 번의 클릭만으로 SEM이미지의 개체에 색상 추가. 자동 물체 감지. 사진 편집 소프트웨어를 사용할 때보다 시간 절약.

샘플의 2회 연속 기울어진 스캔 또는 4사분면 검출기로 스캔한 4개의 이미지에서 몇 초 만에 3D표면 지형을 생성합니다.

• 스테레오 사진 측량 재구성 알고리즘을 사용하여 샘플의 두 번의 연속 기울어진 스캔에서 높이를 재구성합니다.
• 셰이딩 알고리즘의 모양을 사용하여 4사분면 후방 산란 전자 검출기로 4개 이미지 스캔에서 높이 재구성
• 단일 이미지에서 대략적인 3D 렌더링을 얻습니다.
• 거칠기 분석 및 3D 차원 분석을 위한 액세스 도구

각기 다른 기기 유형에 맞게 조정된 자습서 및 바로 사용할 수 있는 템플릿에 액세스.

템플릿을 사용하여 새로운 동료에게 표면 및 이미지 분석 루틴에 대해 가르칩니다.

• 다양한 기기 유형(2D/3D 프로필로미터, SEM, SPM, 하이퍼스펙트럴)에 맞게 조정된 자습서 및 바로 사용할 수 있는 템플릿에 액세스
• 그림과 설명이 있는 템플릿을 사용하여 새로운 동료에게 표면 및 이미지 분석 루틴에 대해 쉽게 가르칩니다.