E-LIT - 반도체 및 PCB 제조 공정 중 불균일한 온도 분포를 통해 비접촉 결함 검사를 위한 자동화된 테스트 솔루션 시스템입니다. 락인 서모그래피로 국부적인 전력 손실을 측정할 수 있습니다. 이는 고성능 서모그래픽 카메라로 가능한 가장 짧은 측정 시간을 사용하여 달성할 수 있습니다. 그리고 다음과 같은 특별한 락인 절차가 필요합니다.

이 프로세스의 전원 공급 장치는 실시간 동기화 모듈의 연동으로 mK 또는 심지어 μK 수준의 온도 차이를 감지하며, 이는 측정 Sample의 미세 불량 위치를 안정적으로 감지합니다.

PCB 표면과 집적 회로의 점 및 선 탭, 산화물 결함, 트랜지스터 및 다이오드 결함과 같은 사소한 결함을 x 및 y 위치에서 감지하고 표시할 수 있습니다. 
또한 검출 주파수를 변경하는 것만으로 적층된 다이 패키지 또는 다중 칩 모듈을 z 방향으로 분석할 수 있습니다.

Technical Specifications

Software